Estudio y desarrollo de un nuevo método para estudiar rocas porosas
1999
Título | Estudio y desarrollo de un nuevo método para estudiar rocas porosas |
Nombre | Valdivia, Daniel Omar Ingeniero Aeronáutico Universidad Tecnológica Nacional Argentina Magister en Ciencia y Tecnología de Materiales UNSAM |
Directores | Dr. Gaggioli Néstor G.M.. Dra. Rebollo Aurora. . CNEA Centro Atómico Constituyentes |
Fecha Defensa | 05/05/1999 |
Jurado | |
Código | Código IT IT/T--41/99 |
Resumen
En la actualidad, la óptica y los láseres son un instrumento imprescindible para el estudio no destructivo ni invasivo de la materia y para el control industrial, ya sea a nivel metrológico o en línea de producción. Así, en la última década ha habido un aumento notable de métodos de medición e inspección automática para la detección de defectos y el control de calidad basados en fenómenos relacionados con la luz láser. En particular, cuando la luz de un láser incide sobre una superficie rugosa, ésta dispersa la luz llevando consigo información sobre sus características. Aprovechando este fenómeno, en el presente trabajo se realiza un estudio de la porosidad de rocas mediante el análisis de la luz dispersada cuando se las ilumina con un haz láser. Este estudio tiene su fundamento en varios trabajos realizados en diversos laboratorios de EE.UU., en Japón y en el Laboratorio de aptica y Láser (LOL) de la CNEA. En los primeros se ha logrado relacionar la correlación de speckles con el tamaño de las partículas que conforman un sinterizado así como el tamaño y la concentración de partículas incluidas bajo plástico. En el LOL, en el que se ha desarrollado esta Tesis, se trabaja desde hace varios años en la caracterización de superficies rugosas mediante el estudio de la luz dispersada. Los resultados obtenidos en el presente trabajo, permiten pensar en la posibilidad de desarrollar un dispositivo para efectuar mediciones en el campo, con ciertas adaptaciones de la técnica utilizada. La expectativa es lograr una notable disminución de los costos actuales de ese tipo de medidas.
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