Caracterización a la corrosión de una soldadura por fricción en aluminio 7050-T7451 , microestructura , corrosión general y corrosión bajo tensión
2002
Título | Caracterización a la corrosión de una soldadura por fricción en aluminio 7050-T7451 , microestructura , corrosión general y corrosión bajo tensión |
Nombre | Ungaro, María Laura |
Directores | Dr. Buchheit Rudolph G. con apoyo de Wright-Patterson Air Force Research Laboratories. Universidad de Ohio. EEUU . . . . |
Tutor | Dr. Carranza Ricardo CNEA. |
Jurado | . |
Lugar de realización | Universidad de Ohio EEUU |
Código | IT/IM-TS--34/02 |
Resumen
Mediante mediciones de dureza y metalografía óptica se caracterizaron las variaciones en la dureza y la microestructura de una soldadura por fricción en placas de aluminio 7050-T7451. El comportamiento a la corrosión de las distintas zonas se determinó utilizando técnicas de polarización potenciodinámicas, penetración de una lámina delgada e inmersión en solución de NaCl + H2O2. La susceptibilidad a la corrosión bajo tensión fue analizada mediante ensayos de tracción a velocidad constante. Se encontró que la zona afectada por el calor y la zona termomecánicamente afectada son las más susceptibles a la corrosión. Se halló también una ligera asimetría en la respuesta al ataque corrosivo, resultando ser el lado de avance el más susceptible. Las experiencias de corrosión bajo tensión muestran que las fracturas ocurren en el límite de la zona termomecánicamente afectada y el nugget. Se llegó a la conclusión que existe una buena correlación entre los potenciales de picado medidos, la velocidad de penetración hallada y el ensayo de inmersión.
Complete Title
Abstract
In the present work the production of composite polymer/ceramic objects by microstereolithography is presented. The suspension is characterized by 55 per cent by weight of powder content and by a reactivity and a viscosity compatible with its application in the stereolithography process. The ceramic green part is built in a microstereolithographic system operating with a non coherent broad-band Hg light
volver al listado