Modeling of the tunneling current in MOS devices after proton irradiation using a nonlinear series resistance correction

Fil: Palumbo, Félix Roberto Mario. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares. Gerencia de Física (Centro Atómico Constituyentes); Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina

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Main Authors: Palumbo, Félix Roberto Mario, Miranda, Enrique
Published: Institute of Electrical and Electronics Engineers 2011
Online Access:https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/8004
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