Estudio de la degradación de dispositivos nano-micro electrónicos y desarrollo de técnicas de diagnóstico empleando un micro haz de iones pesados de alta energía
Fil: Vega, Nahuel Agustín. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
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| Other Authors: | |
| Language: | Spanish |
| Published: |
2020
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/1585 |
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