Estudio de la degradación de dispositivos nano-micro electrónicos y desarrollo de técnicas de diagnóstico empleando un micro haz de iones pesados de alta energía
Fil: Vega, Nahuel Agustín. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | Spanish |
| Published: |
2020
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/1585 |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Estudio de la degradación de dispositivos nano-micro electrónicos y desarrollo de técnicas de diagnóstico empleando un micro haz de iones pesados de alta energía
- Montaje del acelerador electrostático de iones pesados tandar
- Implementación de una línea de haz destinada a experiencias en colisiones atómicas con el Acelerador de Iones Pesados TANDAR
- Difusión de elementos sustitucionales en Ti en su fase HCP
- VI Reunión de Trabajo en Física Nuclear
- Reacciones de transferencia con iones muy pesados y momentos nucleares de inercia a altas frecuencias de rotación.
- VIII Reunión de Trabajo en Física Nuclear