Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analyses [sic].

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Nelson, Wayne B.
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, N.J. : Wiley Interscience, 2004.
Series:Wiley series in probability and statistics
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s2004####xxuad||f#|||||00| 0#eng#d
003 AR-SmCIES
020 |a 0471697362 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 50308 
100 1 |a Nelson, Wayne B. 
245 1 0 |a Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analyses [sic]. 
260 |a Hoboken, N.J. :  |b Wiley Interscience,  |c 2004. 
300 |a xiv, 601 p. :  |b tabla, diagr. 
490 1 |a Wiley series in probability and statistics 
500 |a Ejercicios al final de cada capítulo 
500 |a Apéndices y bibliografía: p.549-577 
650 4 |a ENSAYOS ACELERADOS DE VIDA [MATERIALES] -METODOS ESTADISTICOS 
650 4 |a FRECUENCIA DE FALLAS, ANALISIS DE [MATERIALES] -METODOS ESTADISTICOS 
650 4 |a INGENIERIA -CONFIABILIDAD -METODOS ESTADISTICOS 
830 |a Wiley series in probability and statistics 
999 |c 25270  |d 25270 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 50308  |l 2  |m 10  |o 620.199: 519.2 N332 2004  |p 50308  |q 2026-12-21  |r 2025-06-23 11:00:18  |s 2025-06-23  |w 2018-02-20  |y BK