Determinación de profundidades y espesores en láminas delgadas mediante técnicas de estero-microscopía electrónica

Fil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina

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Bibliographic Details
Main Authors:	Ipohorski, Miguel, Pochettino, Alberto A.
Other Authors:	Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia de Tecnología. Departamento de Metalurgia
Language:	Spanish
Published:	Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina 1972
Subjects:	MICROSCOPIA ELECTRONICA CAPAS FINAS ESPESOR PROFUNDIDAD ELECTRON MICROSCOPY THIN FILMS THICKNESS DEPTH
Online Access:	https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/6138
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