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Ensayo para calificación de un circuito integrado con SiPM para aplicación espacial

Fil: Nowogrodzki, Karen Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Instituto de Tecnología "Jorge Sabato"

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Bibliographic Details
Main Author:	Nowogrodzki, Karen
Other Authors:	Izraelevitch, Federico H.
Language:	Spanish
Published:	Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Gerencia de Área Académica. Gerencia Instituto de Tecnología "Jorge Sabato" 2022
Subjects:	INDUSTRIA AEROESPACIAL SILICIO ENSAYO DE MATERIALES MICROSCOPIA AEROSPACE INDUSTRY SILICON MATERIALS TESTING MICROSCOPY SIPM CICLADO TERMICO EN VACIO SHOCK TERMICO CORRIENTE OSCURA DINAMICA TERMICA ENSAYOS TERMICOS
Online Access:	https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/11533
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Description
Summary:	Fil: Nowogrodzki, Karen Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Instituto de Tecnología "Jorge Sabato"