Diffraction and imaginig techniques in material science

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Amelinckx, S. (Ed.), Gevers, R. (Ed.), Van Landuyt, J. (Ed.)
Format: Book
Language:English
Published: Amsterdam: North-Holland, 1978.
Edition:2a ed
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a22000007a 4500
003 AR-SmCIES
005 20221028160319.0
008 221028t19781970engod|||r|||| 00| 0 eng d
999 |c 33118  |d 33118 
020 |a 0444851291 
040 |c AR-SmCIES 
245 |a Diffraction and imaginig techniques in material science 
250 |a 2a ed  |b rev. 
260 |a Amsterdam:   |b North-Holland,   |c 1978. 
300 |a vol II, ix, 457-847 p.:   |b fot., graf.;  
650 7 |2 INIST  |9 3457  |a MICROSCOPIA ELECTRONICA 
650 7 |2 INIST  |9 3456  |a ELECTRON MICROSCOPY 
650 7 |2 INIST  |a LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION  |9 4360 
650 7 |2 INIST  |a DIFRACCION DE ELECTRONES DE BAJA ENERGIA  |9 4361 
650 7 |2 INIST  |9 74  |a DIFRACCION DE RAYOS X 
650 7 |2 INIST  |9 2904  |a X-RAY DIFFRACTION  
650 7 |2 INIST  |a FIELD EMISSION MICROSCOPY  |9 4362 
650 7 |2 INIST  |a MICROSCOPIA DE EMISION DE CAMPO  |9 4363 
653 |a MIRROR ELECTRON MICROSCOPY 
700 |9 4357  |a Amelinckx, S.  |e Ed. 
700 |9 4358  |a Gevers, R.  |e Ed. 
700 |9 4359  |a Van Landuyt, J.  |e Ed. 
942 |2 udc  |c BK