Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo.

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Format: Book
Language:Spanish
Published: [s.l.] : IRAM, Buenos Aires 1998.
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MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s1998####ag ad||f#|||||00| 0#spa#d
003 AR-SmCIES
024 8 |a IRAM-15 dic 1973 
024 8 |a COPANT-327-1972 
041 7 |a es   |2 ISO 639-1 
091 |a 48846 
245 1 0 |a Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo. 
260 |a [s.l.] :  |b IRAM, Buenos Aires  |c 1998. 
300 |a 66 p. :  |b tabla, diagr. 
500 |a Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17 
500 |a Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972 
500 |a Apéndices: p.9-66 
999 |c 23755  |d 23755 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 48846  |o IRAM-15 dic 1973  |p 48846  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y BK