Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo.
Saved in:
| Format: | Book |
|---|---|
| Language: | Spanish |
| Published: |
[s.l.] :
IRAM, Buenos Aires
1998.
|
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Item Description: | Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17 Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972 Apéndices: p.9-66 |
|---|---|
| Physical Description: | 66 p. : tabla, diagr. |