IEEE transactions on reliability

Saved in:
Bibliographic Details
Format: Journal
Language:English
Published: New York, N.Y. : INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS (IEEE),
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nas a2200000 a 4500
008 170703c1996####nyuu||p#r||||#00|#||eng#d
003 AR-SmCIES
022 |a 0018-9529 
210 0 |a IEEE TRANS. RELIAB. 
222 0 |a IEEE transactions on reliability 
245 0 0 |a IEEE transactions on reliability 
260 |a New York, N.Y. :  |b INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS (IEEE), 
653 |a CONTROL; CIBERNETICA; AUTOMATIZACION 
653 |a INGENIERIA ELECTRICA; INGENIERIA MECANICA 
999 |c 12247  |d 12247 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 2001, v. 50, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 2000, v. 49, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 1999, v. 48, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 1998, v. 47, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 1997, v. 46, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |h 1996, v. 45, no. (1,2,3,4)  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y CR