Materials characterization using nondestructive evaluation (NDE) methods /

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Hübschen, Gerhard (ed.), Altpeter, Iris, Tschuncky, Ralf, Herrmann, Hans-Georg
Format: Book
Language:English
Published: Amsterdam ; Boston : Elsevier/Woodhead Publishing, c2016.
Series:Woodhead Publishing series in electronic and optical materials ; no. 88.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000cam a22000007i 4500
001 19677820
003 AR-SmCIES
005 20180420150819.0
008 170601s2016 ne a fr 001 0 eng d
999 |c 26473  |d 26473 
020 |a 9780081000403  |q (hbk.) 
040 |a BTCTA  |b eng  |c BTCTA  |e rda  |d YDXCP  |d BDX  |d CDX  |d OCLCO  |d OCLCF  |d LTSCA  |d OCL  |d U3G  |d DLC  |d AR-SmCIES 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
072 7 |2 inissc  |a S36 
080 0 |a 620.179.1 
082 0 4 |a 620.1/127  |2 23 
245 0 0 |a Materials characterization using nondestructive evaluation (NDE) methods /  |c edited by Gerhard Hübschen [et al.] 
264 1 |a Amsterdam ;  |a Boston :  |b Elsevier/Woodhead Publishing,  |c c2016. 
300 |a xv, 303 p. :  |b il. (algunas col.)  |c 24 cm 
490 1 |a Woodhead Publishing series in electronic and optical materials ;  |v no. 88 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 0 |g 1.  |t Atomic force microscopy (AFM) for materials characterization /   |r M.K. Khan, Q.Y. Wang, M.E. Fitzpatrick.  |g 2.  |t Scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) for materials characterization /   |r B.J. Inkson.  |g 3.  |t X-ray microtomography for materials characterization /   |r R. Hanke, T. Fuchs, M. Salamon, S. Zabler.  |g 4.  |t X-ray diffraction (XRD) techniques for materials characterization /   |r J. Epp.  |g 5.  |t Microwave, millimeter wave and terahertz (MMT) techniques for materials characterization /   |r C. Sklarczyk.  |g 6.  |t Acoustic microscopy for materials characterization /   |r R.Gr. Maev.  |g 7.  |t Ultrasonic techniques for materials characterization --  |r G. Hübschen.  |g 8.  |t Electromagnetic techniques for materials characterization /   |r I. Altpeter, R. Tschuncky, K. Szielasko.  |g 9.  |t Hybrid methods for materials characterization /   |r R. Tschuncky, K. Szielasko, I. Altpeter. 
650 7 |a ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS  |2 INIS  |9 71 
650 7 |a MICROSCOPIA ELECTRONICA POR BARRIDO  |2 INIS  |9 72 
650 7 |a MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA  |2 INIS  |9 73 
650 7 |a DIFRACCION DE RAYOS X  |2 INIS  |9 74 
650 7 |a MICROSCOPIA ACUSTICA  |2 INIS  |9 75 
700 1 |a Hübschen, Gerhard  |9 67  |e ed. 
700 1 |a Altpeter, Iris  |9 68 
700 1 |a Tschuncky, Ralf  |9 69 
700 1 |a Herrmann, Hans-Georg  |9 70 
830 0 |a Woodhead Publishing series in electronic and optical materials ;  |v no. 88.  |9 76 
942 |2 udc  |c BK 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |c NEW  |d 2018-04-20  |e Compra  |i 51402  |o 620.179.1 M425  |p 51402  |r 2018-04-20 00:00:00  |w 2018-04-20  |y BK