Trace analysis of semiconductor materials.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Cali, J. Paul (ed)
Format: Book
Language:English
Published: Oxford : Pergamon press, 1964.
Series:Belcher, R.
Gordon, L.
International series of monographs in analytical chemistry, v.<11>
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
003 AR-SmCIES
005 20250715134910.0
008 170703s1964#### ukad||f#|||||00| 0#eng#d
040 |c AR-SmCIES 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 42106 
100 1 |a Cali, J. Paul  |e ed  |9 10704 
245 1 0 |a Trace analysis of semiconductor materials. 
260 |a Oxford :  |b Pergamon press,  |c 1964. 
300 |a ix, 282 p. :  |b tablas, diagrs. 
490 1 |a International series of monographs in analytical chemistry, v.<11> 
500 |a Bibliografía al final de cada capítulo 
650 4 |a MATERIALES  |2 INIST 
650 4 |a MATERIALES SEMICONDUCTORES  |2 INIST  |9 10705 
650 4 |a CONDUCTORES ELÉCTRICOS  |2 INIST  |9 2125 
650 4 |a ESPECTROSCOPÍA  |2 INIST  |9 3095 
650 4 |a FLUORESCENCIA  |2 INIST  |9 2815 
800 1 |a Belcher, R.  |e ed  |9 10706 
800 1 |a Gordon, L.  |e ed  |9 10707 
830 |a International series of monographs in analytical chemistry, v.<11>  |9 10708 
942 |2 udc  |c BK 
999 |c 26249  |d 26249 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 42106  |o 543.064 C128  |p 42106  |r 2018-02-20 00:00:00  |t Vol.11  |w 2018-02-20  |y BK