Electron microscopy and strength of crystals.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Thomas, Gareth
Corporate Author: International materials conference
Other Authors: Washburn, Jack
Format: Conference Proceeding Book
Language:English
Published: New York : Interscience publ., 1963.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s1963####nyu||||f#|||||10| 0#eng#d
003 AR-SmCIES
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 11293 
100 1 |a Thomas, Gareth 
245 1 0 |a Electron microscopy and strength of crystals. 
260 |a New York :  |b Interscience publ.,  |c 1963. 
300 |a [xi] 1022 p. 
500 |a Bibliografía y discusiones al final de cada artículo 
650 4 |a MICROSCOPIOS ELECTRONICOS -CONGRESOS 
700 1 |a Washburn, Jack 
711 2 |a International materials conference  |c Berkeley, Calif.,US  |d 1961 
999 |c 24639  |d 24639 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 11293  |o 621.385.833 In8 1961  |p 11293  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y BK 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 11613  |o 621.385.833 In8 1961  |p 11613  |r 2018-02-20 00:00:00  |t ej.2  |w 2018-02-20  |y BK