Scanning electron microscopy, Xray microanalysis, and analytical electron microscopy: a laboratory workbook.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Lyman, Charles E.
Other Authors: Goldstein, Joseph I., Romig, Alton D., Echlin, Patrick, Joy, David C., Newbury, Dale E., Williams, David B., Armstrong, John T., Fiori, Charles E., Lifshin, Eric, Peters, Klaus Ruediger
Format: Book
Language:English
Published: New York and London : Plenum press, 1990.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s1990####nyuad||f#|||||00| 0#eng#d
003 AR-SmCIES
020 |a 0306435918 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 48499 
100 1 |a Lyman, Charles E. 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy, Xray microanalysis, and analytical electron microscopy: a laboratory workbook. 
260 |a New York and London :  |b Plenum press,  |c 1990. 
300 |a xi, 407 p. :  |b il., tabla, diagr. 
500 |a Bibliografía al final de algunos capítulos 
650 4 |a MICROSCOPIA ELECTRONICA -ENSEÑANZA PROGRAMADA 
650 4 |a MICROSCOPIA ELECTRONICA POR BARRIDO -ENSEÑANZA PROGRAMADA 
650 4 |a MICROANALISIS POR RAYOS X -ENSEÑANZA PROGRAMADA 
700 1 |a Goldstein, Joseph I. 
700 1 |a Romig, Alton D. 
700 1 |a Echlin, Patrick 
700 1 |a Joy, David C. 
700 1 |a Newbury, Dale E. 
700 1 |a Williams, David B. 
700 1 |a Armstrong, John T. 
700 1 |a Fiori, Charles E. 
700 1 |a Lifshin, Eric 
700 1 |a Peters, Klaus Ruediger 
999 |c 23473  |d 23473 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 48499  |o 537.533.35 [076.6] L989  |p 48499  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y BK 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 31 4 5 271 ITJS  |o 537.533.35 [076.6] L989  |p 31 4 5 271 ITJS  |r 2018-02-20 00:00:00  |t ej.3  |w 2018-02-20  |y BK 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 31 4 5 270 ITJS  |l 1  |o 537.533.35 [076.6] L989  |p 31 4 5 270 ITJS  |r 2026-01-28 14:47:02  |s 2026-01-05  |t ej.2  |w 2018-02-20  |y BK