Electron microbeam analysis

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Boekestein, Abraham (ed.)
Corporate Author: Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis
Other Authors: Pavicevic, Miograd K. (ed.)
Format: Conference Proceeding Book
Language:English
Published: Wien, New York: Springer, 1992
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
003 AR-SmCIES
005 20241114103431.0
008 170703s1992####au a|||f#|||||00| 0#eng#d
999 |c 23266  |d 23266 
020 |a 038782359X 
020 |a 321182359X 
022 |a 00263672 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 31 4 5 160 ITJS 
100 1 |a Boekestein, Abraham  |e ed.  |9 9507 
245 1 0 |a Electron microbeam analysis 
260 |a Wien, New York:   |b Springer,   |c 1992 
300 |a ix, 278 p.:   |b ilustraciones, gráficos;  
500 |a Suplemento no.12 de la revista "Mikrochimica Acta" conteniendo actas de congreso 
500 |a Bibliografía al final de cada artículo 
650 4 |a ANÁLISIS (ACTIVACIÓN)  |2 INIST  |9 9497 
650 4 |a MATERIALES  |2 INIST  |9 9508 
650 4 |a ANALIZADORES DE HACES  |2 INIST  |9 9509 
650 4 |a MICROSCOPIA ELECTRÓNICA  |2 INIST  |9 3457 
650 4 |a ESPECTROSCOPIA   |2 INIST  |9 3095 
700 1 |a Pavicevic, Miograd K.  |e ed.  |9 9510 
711 2 |a Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis  |n 2  |c Dubrovnik,YU  |d 1991  |9 9511 
942 |2 udc  |c IS 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 31 4 5 160 ITJS  |o 543.063 B633   |p 31 4 5 160 ITJS  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y IS