X-ray microscopy and X-ray microanalysis

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author: 2nd International Symposium X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis stockholm, England
Other Authors: Engstrôm, A. (Ed.), Cosslett, V. (Ed.), Pattee, h. (Ed.)
Format: Conference Proceeding Book
Published: Amsterdam: Elsevier, 1960.
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
003 AR-SmCIES
005 20240205151925.0
008 170703s1960 o dne f r e e1 eng
999 |c 21879  |d 21879 
040 |c AR-SmCIES 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 17889 
111 |a 2nd International Symposium X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis  |c stockholm, England  |d jan, 1960  |9 6733 
245 1 0 |a X-ray microscopy and X-ray microanalysis 
260 |a Amsterdam:   |b Elsevier,   |c 1960. 
300 |a x, 542 p.:   |b graf., fot.;  
650 4 |a RAYOS X-CONGRESOS  |9 6734 
650 7 |a MICRORADIOGRAPHY  |2 INIST  |9 6735 
650 7 |a MICROSCOP� A  |2 INIST  |9 2971 
650 7 |a X-RAY EMISSION SPECTROSCOPY  |2 INIST  |9 6736 
650 7 |a X-RAY DIFFRACTION   |2 INIST  |9 2904 
650 7 |a ABSORPTION SPECTROSCOPY  |2 INIST  |9 2885 
700 |a Engstrôm, A.  |e Ed.  |9 6737 
700 |a Cosslett, V.  |e Ed.  |9 6738 
700 |a Pattee, h.  |e Ed.  |9 6739 
942 |2 udc  |c BK