Particleinduced Xray emission spectrometry [PIXE].

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Johansson, Sven A. E. (ed.)
Other Authors: Campbell, John L. (ed.), Malmqvist, Klas G. (ed.)
Format: Book
Language:English
Published: New York : John Wiley, 1995.
Series:Chemical analysis, no.<133>
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s1995####nyua|||f#|||||00| 0#eng#d
003 AR-SmCIES
020 |a 0471589446 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 47494 
100 1 |a Johansson, Sven A. E.  |e ed. 
245 1 0 |a Particleinduced Xray emission spectrometry [PIXE]. 
260 |a New York :  |b John Wiley,  |c 1995. 
300 |a xxiii, 451 p. :  |b il. 
490 1 |a Chemical analysis, no.<133> 
500 |a Bibliografía al final de cada capítulo 
650 4 |a ANALISIS POR ESPECTROS DE EMISION 
650 4 |a PIXE 
700 1 |a Campbell, John L.  |e ed. 
700 1 |a Malmqvist, Klas G.  |e ed. 
830 |a Chemical analysis, no.<133> 
999 |c 18989  |d 18989 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 47494  |l 2  |m 10  |o 543.423 J599  |p 47494  |q 2026-12-21  |r 2025-05-29 11:44:33  |s 2025-05-29  |w 2018-02-20  |y BK