Strahlenschädigung in MOS-Varaktoren bei tiefen temperaturen.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Radke, Randolf E. C.
Corporate Author: Hahn-Meitner-Institute Berlín^pDE
Format: Book
Language:German
Published: Berlín : HMI-B, 1993.
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
008 170703s1993####gw ||||f#|||||00| 0#ger#d
003 AR-SmCIES
022 |a 0944-0305 
024 8 |a HMI-B 512 
041 7 |a de   |2 ISO 639-1 
041 7 |a de   |2 ISO 639-1 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
091 |a 42247 
100 1 |a Radke, Randolf E. C. 
710 2 |a Hahn-Meitner-Institute Berlín^pDE 
245 1 0 |a Strahlenschädigung in MOS-Varaktoren bei tiefen temperaturen. 
260 |a Berlín :  |b HMI-B,  |c 1993. 
300 |a 110 p. 
999 |c 17923  |d 17923 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 42247  |o HMI-B 512  |p 42247  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y BK