Atom probe microanalysis: principles and applications to materials problems.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Miller, Mike K.
Other Authors: Smith, George D. W.
Format: Book
Language:English
Published: Pittsburgh: Materials Research Society, 1989
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
003 AR-SmCIES
005 20241114123314.0
008 170703s1989####xxua|||f#|||||00| 0#eng#d
999 |c 17053  |d 17053 
020 |a 0931837995 
041 7 |a en   |2 ISO 639-1 
080 |a 543.063 
100 1 |a Miller, Mike K.  |9 9514 
245 1 0 |a Atom probe microanalysis: principles and applications to materials problems. 
260 |a Pittsburgh:   |b Materials Research Society,   |c 1989 
300 |a xiv, 278 p.:   |b ilustraciones; figuras; . 
500 |a Apéndices al final de la obra 
500 |a Bibliografía al final de cada capítulo 
650 4 |a MATERIALES  |2 INIST  |9 9515 
650 4 |a MICROSCOP� A DE CAMPO IÓNICO  |2 INIST  |9 9516 
650 4 |a IONIZACIÓN  |2 INIST  |9 3461 
650 4 |a EVAPORACIÓN  |2 INIST  |9 98 
650 4 |a SONDAS  |2 INIST  |9 9496 
700 1 |a Smith, George D. W.  |9 9517 
942 |2 udc  |c BK 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 38400  |o 543.063 M616  |p 38400  |r 2018-02-20 00:00:00  |w 2018-02-20  |y BK 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |7 0  |a CIES-CAC  |b CIES-CAC  |d 2018-02-20  |i 48319  |o 543.063 M616  |p 48319  |r 2018-02-20 00:00:00  |t ej.2  |w 2018-02-20  |y BK