Evolution of the gate current in 32 nm MOSFETs under irradiation - Palumbo, Félix Roberto Mario; Debray, Mario Ernesto; Vega, Nahuel Agustín; Quinteros, Cynthia Paula; Kalstein, Ariel; Guarin, F. (Pergamon-Elsevier Science Ltd, 2016)
Fil: Palumbo, Félix Roberto Mario. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina