Similar Items: Electron Radiation Damage in a High Voltage Electron Microscope
- Electron and ion beam science and technology; Fourth international conference.
- Electron and ion beam science and technology; Fifth international conference.
- Electron and ion beam science and technology; Sixth international conference.
- The world through the electron microscope.
- Vacancy tetrahedra in copper due to electron Irradiation in the high-voltage microscope.
- Caracterización de inclusiones en aceros mediante técnicas de microanálisis de láminas delgadas
Author: Ipohorski, Miguel
- Preparación y observación de réplicas para microscopía electrónica
- Microscopía electrónica de láminas delgadas
- Determinación de profundidades y espesores en láminas delgadas mediante técnicas de estero-microscopía electrónica
- Técnicas avanzadas de microscopía electrónica
- Microscopía electrónica de láminas delgadas
- Estudio de la formación de cavidades bajo irradiación neutrónica mediante técnicas de microscopía electrónica